Renishaw na veletrhu EMO 2015 představuje novou verzi multisenzorového systému REVO® pro pětiosé měření

Společnost Renishaw s potěšením oznamuje uvedení systému REVO-2, nové zdokonalené verze revoluční multisenzorové hlavice pro pětiosé měření k použití na souřadnicových měřicích strojích (CMM).

projít na článek

Renishaw představuje novou bezkontaktní video sondu pro multisenzorový systém REVO®

Společnost Renishaw uvádí na trh novou sondu pro vizuální měření (RVP – Renishaw Video Probe), určenou pro využití s pětiosým měřicím systémem REVO pro souřadnicové měřicí stroje (CMM). Sonda RVP rozšiřuje možnosti systému REVO o bezkontaktní měření. Celý

projít na článek

Renishaw představuje novou sondu pro bezkontaktní 3D skenování

Na veletrhu EMO Hannover 2019 společnost Renishaw, přední světový výrobce měřicích systémů, představí novou rozšířenou řadu modulů sond pro měření drsnosti povrchu, které lze používat s jejím pětiosým měřicím systémem REVO® pro souřadnicové měřicí stroje,

projít na článek

Renishaw představuje novou skenovací sondu RSP3-6 pro vícesenzorový systém REVO®.

Společnost Renishaw uvádí na trh skenovací sondu RSP3-6 s prodlouženým dosahem měření. Nová sonda rozšiřuje možnosti 5osého měřicího systému REVO pro souřadnicové měřicí stroje (CMM).

projít na článek

Zdokonalená dostupnost měřených prvků pro systém pětiosého měření REVO® a nové funkce pro měřicí software MODUS™ pro souřadnicové měřicí stroje na veletrhu EMO 2019

Na veletrhu EMO Hannover 2019 společnost Renishaw, přední světový výrobce měřicích systémů, představí novou rozšířenou řadu modulů sond pro měření drsnosti povrchu, které lze používat s jejím pětiosým měřicím systémem REVO® pro souřadnicové měřicí stroje,

projít na článek

Společnost Renishaw na veletrhu EMO Hannover 2017 představí nové příslušenství pro multisenzorový systém REVO® - sondu pro měření drsnosti povrchu

Společnost Renishaw, přední světový výrobce měřicích sond pro souřadnicové měřicí stroje, představí na veletrhu EMO Hannover 2017 (18.–23. září, hala 6, stánek B46) novou, významně inovovanou sondu SFP2 pro měření drsnosti povrchu. Sonda SFP2 je určena k

projít na článek